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  • HPGe輻射探測(cè)器電子設(shè)備

    ORTEC輻射探測(cè)器具有多種電子設(shè)計(jì)特性,提高了性能和安全性

    更新時(shí)間:2025-07-25
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  • 杜瓦瓶和低溫恒溫器2

    采用各種低溫恒溫器配置和杜瓦瓶尺寸的標(biāo)準(zhǔn)液氮冷卻,可支持大多數(shù)輻射探測(cè)器應(yīng)用

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  • 閃爍輻射探測(cè)器電子器件和附件

    ORTEC提供一系列支持NaI(Tl)和LaBr探測(cè)器配置的電子套件

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  • 溴化鑭閃爍輻射探測(cè)器

    高光輸出和快速衰減時(shí)間輸出脈沖

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  • 905系列NaI(Tl)閃爍輻射探測(cè)器

    與閃爍體相互作用的伽馬射線產(chǎn)生光脈沖,該光脈沖由光電倍增管(PMT)轉(zhuǎn)換成電脈沖

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  • 2BY2/2BY2-DD和3BY3/3BY3-DD一體化NaI(Tl)閃爍輻射探測(cè)器

    用于現(xiàn)場(chǎng)能譜測(cè)量的完整耐用NaI探測(cè)器耐用的集成NaI探測(cè)器采用堅(jiān)固的鋁制外殼-有2英寸x2英寸和3英寸x3英寸的尺寸可供選擇

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  • 閃爍體輻射探測(cè)器

    ORTEC提供一系列基于閃爍的輻射探測(cè)器解決方案,包括活化的[NaI(Tl)]和溴化鑭[LaBr3(Ce)]

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  • R系列加固型部分耗盡硅輻射探測(cè)器

    主要應(yīng)用用于環(huán)境光線下在真空或空氣中進(jìn)行帶電粒子譜測(cè)量;可清潔

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  • F系列部分耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器

    主要應(yīng)用重離子譜學(xué)

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  • D系列平面型全耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器

    主要應(yīng)用用于重離子飛行時(shí)間測(cè)量

    更新時(shí)間:2025-07-25
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